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危害情報4228・生物的危害 ウェルシュ 培地

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食品における微生物汚染の実態

ウェルシュ菌(Clostridium perfringens)のエンテロトキシンA型の遺伝子を染色体本体に保有している株のほうが、プラスミドに保有している株より食品での分布率が高い。したがって、前者が食中毒を引き起こす理由はその食品での分布率の高さに起因すると考えられてきた。しかし、この理由として、最近の研究で前者は高温などのストレスに強いことが理由であると指摘されている。

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汚染菌の性状

ウェルシュ菌(Clostridium perfringens)のエンテロトキシンA型の遺伝子を染色体本体に保有している株のほうが、プラスミドに保有している株より高温ストレスに強いことが知られている。食中毒患者由来株のほとんどが染色体本体に保有しているタイプである。この理由として、最近の研究で前者は高温などのストレスに強いことが理由であると指摘されている。

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防除技術と防除効果

栄養細胞を4℃という低温ストレス条件下で培養すると、ウェルシュ菌(Clostridium perfringens)のエンテロトキシンA型の遺伝子を染色体本体に保有している株のほうが、プラスミドに保有している株よりより8倍もD値が高くなった(死滅しにくかった)。-20℃での死滅のD値は、染色体での毒素遺伝子保有株はプラスミドでの保有株の3倍であった(死滅しにくかった)。

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危害の種類

生物的危害

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菌種
菌の俗称 ウェルシュ
Clostridium
perfringens
strain No. ---
栄養細胞・胞子の別 胞子
グラム分類 陽性
好気性・嫌気性 嫌気性菌
最適生育温度 中温菌
酵素名 ---
備考 ---
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試験対象
対象 培地
培地名 液体チオグリコレート培地
備考 ---
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試験の想定箇所
試験の想定箇所 その他
その他の概要 ---
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試験条件とデータ(初発・生菌)
試験方法 ---
初発の菌数 ---
備考 ---
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試験条件とデータ(殺菌)
殺菌温度と殺菌時間 低温ストレスとして、4℃と-20℃。
そのときの菌数 ---
その他の殺菌条件 ---
予測D値 ---
備考 ウェルシュ菌(Clostridium perfringens)のエンテロトキシンA型の遺伝子を染色体本体に保有している株のほうが、プラスミドに保有している株より、4℃では4倍、-20℃では3倍も菌数の死滅の桁数が少なかった。
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試験条件とデータ(増菌)
増菌の条件(培地名) ---
増菌の条件(温度・時間) ---
備考 本研究では、高温での増殖も検討しているが、ウェルシュ菌(Clostridium perfringens)のエンテロトキシンA型の遺伝子を染色体本体に保有している株のほうが、プラスミドに保有している株より25℃、37℃、43℃での増殖速度は速かった。
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出典情報
文献名 エンテロトキシンA型遺伝子を染色体あるいはプラスミドに保有しているウェルシュ菌(Clostridium perfringens)の低温での増殖・生存について
英文名 Further Comparison of Temperature Effects on Growth and Survival of Clostridium perfringens Type A Isolates Carrying a Chromosom
雑誌名 Applied and Environmental Microbiology Vol.72 No.7 (4561-4568 )
掲載年 2006
著者 Li J McClane B A
発行機関 The American Society for Microbiology


(注)本サイトは情報紹介を目的としておりますので、詳細につきましては原本や発行機関等でお調べください。

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